珍珠珠層厚度無損檢測儀

產品簡介：

利用近紅外光，對珍珠珠層厚度進行無損傷實時斷層成像，並分析、測量、評價珍珠的品質。

 珍珠珠層厚度無損檢測儀

1. 全世界第一台近紅外光珍珠珠層無損成像儀(發明專利號：200610057546.6)。
2. 利用低功率近紅外光對珍珠無損成像，照射到樣品的光功率僅1-2mW，波長為1.3微米，無放射性，對檢測工作者和珍珠樣品完全無損傷，檢測實驗室無需放射性屏蔽，不會對工作人員產生潛在的X線放射性危害；
3. 與傳統的X線前向透射成像相比，本產品採用了創新的非接觸式背向散射成像技術實現了單珠檢測，使用於半成品、成品珍珠首飾的測量成為可能；
4. 直觀的珍珠珠層圖像，準確測量珍珠珠層厚度，分辨率可達0.03毫米；
5. 儀器小型化，安裝、使用方便，可在生產工廠、檢測機構、分銷單位、零售單位等場所直接使用,且適用於車載流動檢測；
6. 成像檢測速度快，每個樣品僅用1-2秒，可選配分選器，適用於珍珠養殖、生產過程中的分級、篩選。