珍珠珠层厚度无损检测仪

产品简介：

利用近红外光，对珍珠珠层厚度进行无损伤实时断层成像，并分析、测量、评价珍珠的品质。

 珍珠珠层厚度无损检测仪

1. 全世界第一台近红外光珍珠珠层无损成像仪(发明专利号：200610057546.6)。
2. 利用低功率近红外光对珍珠无损成像，照射到样品的光功率仅1-2mW，波长为1.3微米，无放射性，对检测工作者和珍珠样品完全无损伤，检测实验室无需放射性屏蔽，不会对工作人员产生潜在的X线放射性危害；
3. 与传统的X线前向透射成像相比，本产品采用了创新的非接触式背向散射成像技术实现了单珠检测，使用于半成品、成品珍珠首饰的测量成为可能；
4. 直观的珍珠珠层图像，准确测量珍珠珠层厚度，分辨率可达0.03毫米；
5. 仪器小型化，安装、使用方便，可在生产工厂、检测机构、分销单位、零售单位等场所直接使用,且适用于车载流动检测；
6. 成像检测速度快，每个样品仅用1-2秒，可选配分选器，适用于珍珠养殖、生产过程中的分级、筛选。